58
ОЗУ, который поддерживает интерфейс классических микросхем DRAM, или
SDRAM, а так же регенерацию динамической памяти.
Второй важной особенностью современных модулей ОЗУ – низкое,
примерно 1 В, напряжение хранения информации. Это позволяет сохранять
данные при провалах питания. С этой же целью иногда в модуль статического
ОЗУ включают батарейку электропитания, позволяющую хранить данные до 10
лет (
семейство DS5000 Dallas Semiconductor).
2.2.4.1 Энергонезависимая память E
2
PROM: историческая справка
В 1974 году в Intel пришел Джордж Перлегос (George Perlegos), грек по
происхождению и будущий основатель компании Atmel. Под его руководством
в 1983 была разработана микросхема EEPROM (кодовое название 2816).
Основой EEPROM стал транзистор с плавающим затвором, изобретенный в той
же Intel Доном Фрохманом (Don Frohman). И в дальнейшем, несмотря на смены
технологических эпох, принцип устройства ячейки энергонезависимой памяти
остался неизменным – какой бы
способ стирания и записи ни использовался.
Ячейка памяти представляет собой МОП-транзистор с плавающим
затвором, который окружен диоксидом кремния. Сток транзистора соединен с
«землей», а исток подключен к напряжению питания с помощью резистора. В
стертом состоянии (до записи) плавающий затвор не содержит заряда, и МОП-
транзистор закрыт. В этом случае
на истоке поддерживается высокий
потенциал, и при обращении к ячейке считывается логическая единица.
Программирование памяти сводится к записи в соответствующую ячейки
логических нулей. Программирование осуществляется путем подачи на
управляющий затвор высокого напряжения. Этого напряжения должно быть
достаточно, чтобы обеспечить пробой между управляющим и плавающим
затвором, после чего заряд с управляющего
затвора переносится на плавающий.
МОП-транзистор переключается в открытое состояние, закорачивается исток с
землей. В этом случае при обращении к ячейке считывается логический нуль.
Такой метод записи называется «инжекцией горячих электронов», слой окисла
между плавающим затвором и подложкой при этом составляет 50 нм. Стирание
содержимого ячейки происходит путем электрического соединения
плавающего затвора
с «землей».
Таким образом, в EEPROM образца 1980-х запись производилась «горячей
инжекцией», а стирание – «квантовым туннелированием». Оттого микросхемы
эти были довольно сложны в эксплуатации и требовали два, а то и три
питающих напряжения, причем подавать их при записи и стирании требовалось
в определенной последовательности.
Позже, в электрически стираемой памяти Джордж Перлегос
предложил
использовать "квантовый эффект туннелирования Фаулера-Нордхейма". За
этим непонятным названием кроется довольно простое по сути (но очень
сложное с физической точки зрения) явление: при достаточно тонкой пленке
изолятора (в пределах 10 нм) электроны, если их слегка подтолкнуть подачей