
А.В. Глазачев, В.П. Петрович. Физические основы электроники. Конспект лекций
В настоящее время полевые транзисторы вытесняют биполярные в ряде применений. Это связано
с тем, что, во-первых, управляющая цепь полевых транзисторов потребляет ничтожную энергию, т.к.
входное сопротивление этих приборов очень велико. Как правило, усиление мощности и тока в МДП-
транзисторах много больше, чем в биполярных. Во-вторых, вследствие того, что управляющая цепь
изолирована от выходной цепи, значительно повышаются надежность работы и помехоустойчивость
схем на МДП-транзисторах. В-третьих, МДП-транзисторы имеют низкий уровень собственных шумов,
что связано с отсутствием инжекции носителей заряда. В-четвертых, полевые транзисторы обладают
более высоким быстродействием, т.к. в них нет инерционных процессов накопления и рассасывания
носителей заряда. В результате мощные МДП-транзисторы все больше вытесняют биполярные транзи-
сторы там, где требуется высокое быстродействие и повышенная надежность работы.
Однако МДП-транзисторы имеют и недостатки. Во-первых, вследствие высокого сопротивления
канала в открытом состоянии МДП-транзисторы имеют большее падение напряжения, чем падение
напряжения на насыщенном биполярном транзисторе. Во-вторых, МДП-транзисторы имеют сущест-
венно меньшее значение предельной температуры структуры, равное 150
C
0
(для биполярных транзи-
сторов 200
C
0
).
К числу основных недостатков мощных МДП-транзисторов также следует отнести вредное влия-
ние на его работу ряда паразитных элементов, возникающих в структуре транзистора на стадии его
изготовления. Все базовые ячейки мощного МДП-транзистора содержат внутренний «паразитный»
биполярный n–p–n-транзистор (рис. 4.12), образованный
+
n
-истоком (эмиттер), p-областью инверсно-
го канала (база) и эпитаксиальным
-
n
слоем (коллектор). Паразитный транзистор фактически парал-
лельно подключен к рабочему каналу МДП-транзистора.
Для сохранения положи-
тельных свойств МДП-
транзистора и исключения на-
чала работы биполярного тран-
зистора часть p-области всегда
подключают к металлизиро-
ванному контакту истока (это
эквивалентно закорачиванию
эмиттерного перехода паразит-
ного транзистора). Биполярный
транзистор оказывается запер-
тым и не оказывает существен-
ного влияния на работу полево-
го транзистора. Однако быст-
рый спад или, наоборот, рост
напряжения «сток – исток» по-
левого транзистора, что является обычным в динамических режимах, может привести к несанкциони-
рованному открытию паразитного транзистора, а это, в свою очередь, может привести к выходу из
строя всей силовой схемы.
Подключение p-области транзистора к истоку создает еще один дополнительный элемент – об-
ратновключенный диод. Поэтому МДП-транзистор проектируют таким образом, что бы данный диод
соответствовал аналогичным показателям МДП-транзистора и имел малое время восстановления запи-
рающих свойств.
4.6. Комбинированные транзисторы
Вред от паразитного биполярного транзистора в составе МДП-транзистора можно обратить в
пользу, если к нему добавить ещё один дополнительный биполярный транзистор обратного типа про-
водимости по отношению к паразитному. Такое компромиссное решение, позволившее объединить
положительные качества биполярного и МДП-транзистора, представляет собой создание монолитной
структуры, называемой IGBT (Insulated Gate Bipolar Transistor), т.е. биполярный транзистор с изолиро-
ванным затвором (БТИЗ). Отличие в структуре заключается в материале исходной подложки, в качест-
ве которой используется полупроводниковая пластина с дырочной
+
p -электропроводностью
(рис. 4.13, а).
Рис. 4.12. Паразитные элементы структуры мощного МДП-транзистора (а),
эквивалентная схема базовой ячейки (б)