уже слабо с ней связаны. Затем на поверхность наносят кварцевую
или
угольную
пленку, при отделении которой от металлического
шлифа
в
результате
частичного электролитического растворения
последнего в ней остаются частицы карбидов, расположенные таким
же образом, как и в исходной металлической поверхности.
Отделенную пленку можно подвергать в том же электронном
микроскопе
электронографическому исследованию ' для определе-
ния
природы той фазы, включения которой находятся в пленке или
слепке.
Выделение избыточных фаз можно также зафиксировать в оксид-
ных слепках, полученных окислением поверхности или в
результате
соответствующего травления или нагрева. Так как разные фазы
обладают различной способностью к окислению, то они образуют
окисные
пленки неодинаковой толщины и состава. При соответству-
ющем химическом воздействии можно растворить матрицу таким
образом, чтобы при отделении оксидной пленки вместе с ней были
отделены и расположенные в пленке частицы избыточной фазы.
Исследованию слепков, полученных любым из этих методов,
должно предшествовать изучение микрошлифа в оптическом микро-
скопе
при разных увеличениях, вплоть до максимальных. Это необ-
ходимо для того, чтобы
легче
расшифровать
структуру,
наблюдаемую
в
электронном микроскопе. При исследовании в электронном микро-
скопе
необходимо также постепенно переходить от малых увеличе-
ний
к большим с тем, чтобы получить непрерывную серию наблюде-
ний
от увеличений, получаемых в оптическом микроскопе, до боль-
ших увеличений электронного микроскопа.
Если
исследуют
структуру,
которая является в достаточной мере
однородной или равномерно распределенной по объему металличе-
ского шлифа, то достаточно изучить любой участок пленки. Если
же нужно рассмотреть только определенный участок, именно тот,
который
был замечен при исследовании на оптическом микроскопе,
исследование структуры в электронном микроскопе значительно
усложняется, так как надо изучить большую поверхность пленки,
а поле зрения в электронном микроскопе имеет диаметр 5—6 мкм.
Для ускорения работы и большей уверенности, что в электрон-
ном
микроскопе
будет
изучен именно указанный участок, приме-
няют методы «прицельного» наблюдения.
Растровые
микроскопы
Растровый электронный микроскоп имеет меньшую разреша-
ющую
способность; но его достоинство — возможность непосред-
ственно наблюдать
структуру
поверхности объекта без изготовления
слепков или получения тонких фольг.
1
Электронографическое исследование состоит в изучении
дифракционной
кар-
тины
(электронная
микродифракция),
получаемой с поверхности данной фазы
в
результате взаимодействия атомов, входящих в состав этой
фазы,
с пучком электро-
нов.
Метод микродифракции является одним из наиболее эффективных методов опре-
деления
фазового состава сплавов.
81