17
Примеси, локализованные состояния которых располагаются вблизи краев зон на-
зываются мелкими. Если примесные уровни располагаются глубоко в зоне, то такие при-
меси называются глубокими. Для описания состояния глубоких примесей нужно учиты-
вать как вклад в волновую функцию нескольких энергетических зон и потенциал цен-
тральной ячейки.
Значительно сложнее найти спектр мелких доноров в германии и кремнии из-за
существования двух масс. Такая задача может быть решена только численно. Неплохое
приближение для энергии ионизации дает вариационный метод, если в качестве пробной
функции выбрать функцию
(2.20)
( )
22222
2
exp zyx
βα
π
βα
++−=Ψ
(см. книгу Б.И. Шкловский А.Л.Эфрос Электронные свойства легированных полупровод-
ников. М. Наука 1979). Примесные уровни образуются под каждой долиной. Это означает,
что без учета потенциала центральной ячейки и спина, основное состояние донора в гер-
мании должно быть вырождено четырехкратно, а в кремнии – шестикратно. Учет потен-
циала центральной ячейки приводит к тому, что четырехкратно вырожденное состояние
расщепляется на синглет (А состояние) и триплет (F состояние). В кремнии потенциал
центральной ячейки расщепляет шестикратно вырожденное состояние на синглет (А –
состояние), дублет (Е -состояние) и триплет (Т состояние). Основным состоянием и в гер-
мании и кремнии является синглет (с учетом спина - дублет). Вклад долин в состояния
различного типа может быть найден из соображений симметрии (явный вид этого вклада
можно найти в книге Г.Е. Бир, Г.Е.Пикус Симметрия и деформационные эффекты в полу-
проводниках. М.Наука 1972).
Еще более сложной задачей является отыскание волновых функций и энергий мелких ак-
цепторных состояний в полупроводниках с вырожденной валентной зоной, таких как Ge,
Si, GaAs. В случае, когда энергия ионизации акцептора много меньше энергии спинового
расщепления валентной зоны влиянием спин-отщепленной зоны на локализованные со-
стояния акцепторов можно пренебречь и уравнение Шредингера представляет систему 4
дифференциальных уравнений в частных производных. Метод решения этих уравнений в
случае почти изотропных изоэнергетических поверхностей дырок был разработан в рабо-
тах Балдереши и Липари (Phys.Rev. B, v.8, 2697 (1973), v.9, 1525 (1974)). Это приближение
дает хорошее описание для состояний мелких акцепторов в Ge и GaAs, а также в боль-
шинстве полупроводников А3В5.
Однако для описания состояний мелких акцепторов в кремнии это приближение не под-
ходит, поскольку в кремнии энергия ионизации акцепторов порядка величины спин- ор-