Учебное пособие по курсу «Оптические измерения». СПб: СПБГУ ИТМО.
2007 г. – 172 с.
Учебное пособие имеет следующие цели:
ознакомление с принципами экспериментальной работы на приборах ручного управления типа ноль-эллипсометров серии ЛЭФ-3М-1 от юстировки и калибровки до измерений и статистической обработки первичных данных;
пополнение банка данных новыми измерениями оптических систем для анализа
гипотезы об индивидуальности калибровочных процедур и нахождения их констант по
независимым объектам измерений (ОИ);
накопления данных по кинетике состояния ОИ, например, эволюции их памяти в приповерхностных слоях жидких сред, индуцированной из вне путём реструктуризации нанокластеров среды, наблюдаемых непосредственно по изменениям величин азимутов поляризаторов (Рк, Ак) прибора в оптимальных измерительных зонах, выявляемых с помощью предварительной юстировки по рабочим мерам на основе прецизионно отполированных оптических стёкол марки НС;
освоение методики прецизионных измерений амплитудно-фазовых (??, ??) характеристик поля световой волны после взаимодействия с исследуемым веществом при косом падении (0 ? 90) методом многоугловых развёрток;
ознакомление с программным обеспечением компьютерной обработки первичной измерительной информации и модельной оценки (d, n, k) косвенно измеряемых оптических параметров исследуемых материалов на примере гель-золь покрытий стёкол и фото реструктуризации стеклокерамических ОИ.
Учебное пособие имеет следующие цели:
ознакомление с принципами экспериментальной работы на приборах ручного управления типа ноль-эллипсометров серии ЛЭФ-3М-1 от юстировки и калибровки до измерений и статистической обработки первичных данных;
пополнение банка данных новыми измерениями оптических систем для анализа
гипотезы об индивидуальности калибровочных процедур и нахождения их констант по
независимым объектам измерений (ОИ);
накопления данных по кинетике состояния ОИ, например, эволюции их памяти в приповерхностных слоях жидких сред, индуцированной из вне путём реструктуризации нанокластеров среды, наблюдаемых непосредственно по изменениям величин азимутов поляризаторов (Рк, Ак) прибора в оптимальных измерительных зонах, выявляемых с помощью предварительной юстировки по рабочим мерам на основе прецизионно отполированных оптических стёкол марки НС;
освоение методики прецизионных измерений амплитудно-фазовых (??, ??) характеристик поля световой волны после взаимодействия с исследуемым веществом при косом падении (0 ? 90) методом многоугловых развёрток;
ознакомление с программным обеспечением компьютерной обработки первичной измерительной информации и модельной оценки (d, n, k) косвенно измеряемых оптических параметров исследуемых материалов на примере гель-золь покрытий стёкол и фото реструктуризации стеклокерамических ОИ.