Штольц А.К. и др. Определение параметров и ориентировки кристаллической решетки дифракционными методами

Методические указания к лабораторному практикуму по курсу «Атомная физика», "Физика твёрдого тела" и "Рентгенография металлов".
Составители: Штольц А.К., Курбатов Л.В., Медведев А.И., Стоцкий В.М..
Екатеринбург, ГОУ ВПО УГТУ−УПИ, 2004, 40 с. Определение ориентировки кристаллической решётки монокристалла методом Лауэ;
Определение периода кубической решётки чистого кристалла, расчёт числа Авогадро, массы атома и оценка его радиуса.
Приложения:
Элементы структурной кристаллографии;
Дифракция коротковолнового излучения на трёхмерной кристаллической решётке.