Таганрог: ТТИ ЮФУ, 2010. - 152 с.
В конспекте рассматриваются геометрическое описание кристаллической
решетки, теория симметрии кристаллов и способы контроля параметров
микроструктуры материалов методами дифракционного анализа.
Приводятся способы построения элементарных ячеек, трансляционная
симметрия, точечные и пространственные группы симметрии и
использование информационных технологий в кристаллографии.
Конспект лекций предназначен для изучения курса «Кристаллография» студентами специальностей 210100 и 210600, а также может быть полезно студентам других
специальностей.
Конспект лекций предназначен для изучения курса «Кристаллография» студентами специальностей 210100 и 210600, а также может быть полезно студентам других
специальностей.