- формат pdf
- размер 121,37 МБ
- добавлен
04 октября 2016 г.
Москва: ВИНИТИ, 1990. — 194 с. — ISSN 0236-316X. Черепин В.Т. Масс-спектрометрия вторичных ионов Крюков Ю.Ю., Чернов И.П. Методы мгновенного ядерного анализа: резерфордовское обратное рассеяние, резонансное обратное рассеяние, метод ядер отдачи, метод обратного рассеяния каналированных частиц Хмелевская В.С., Соловьев С.П., Малынкин В.Г. Новое структурное состояние в металлических системах, индуцированное ионным облучением