М.: Машгиз, 1961. - 176 с. Изложены основные методы электронно -
микроскопического исследования различных объектов. Подробно
рассматриваются методы прямого исследования с помощью электронного
микроскопа просвечивающего типа (изготовление пленок-подложек,
препарирование объектов и т.п.) и косвенного изучения поверхности
массивных образцов методом одно- и двух ступенчатых отпечатков.
Описываются способы повышения контраста, оценки разрешающей
способности отпечатков различного типа, а также методические
особенности подготовки к электронномикроскопическому исследованию
различных образцов: металлографических шлифов, поверхностей
изломов, объектов малых размеров, волокон.