М.: Наука, 2000 - 218 c.
В монографии кратко изложены физические основы
рентгеноспектрального микроанализа с электронным зондом (РСМА).
Даны обзор и классификация существующих методов учета матричных
эффектов. Обсуждаются возможности программного обеспечения метода и
приводятся технические характеристики микроанализаторов.
Описываются оригинальный способ повышения локальности измерений и
способ изготовления и аттестации стандартных образцов для
микроанализа. Представлены оригинальные подходы к решению
минералогических, технологических и экологических задач с помощью
РСМА. Книга будет интересна для аналитиков, геологов, минералогов,
геохимиков, технологов, экологов и металлургов.