Гл. ред. д.т.н., проф. В.Н. Васильев – СПб: СПбГУ ИТМО, 2006. 280
с.
Выпуск содержит материалы I сессии научной школы «Информационная безопасность, проектирование, технология элементов и узлов компьютерных систем», проведенной в рамках III межвузовской конференции молодых ученых. Конференция была организована 10–13 апреля 2006 года Санкт-Петербургским государственным университетом информационных технологий, механики и оптики в сотрудничестве с многими вузами.
Системы автоматизированного проектирования
Микроэлектроника. Дефектообразование в процессах производства и эксплуатации полупроводниковых интегральных схем
Биотехнические измерительно-вычислительные системы
Перспективные информационные технологии
Методы защиты информации
Оптические методы контроля качества элементной базы микроэлектроники
Выпуск содержит материалы I сессии научной школы «Информационная безопасность, проектирование, технология элементов и узлов компьютерных систем», проведенной в рамках III межвузовской конференции молодых ученых. Конференция была организована 10–13 апреля 2006 года Санкт-Петербургским государственным университетом информационных технологий, механики и оптики в сотрудничестве с многими вузами.
Системы автоматизированного проектирования
Микроэлектроника. Дефектообразование в процессах производства и эксплуатации полупроводниковых интегральных схем
Биотехнические измерительно-вычислительные системы
Перспективные информационные технологии
Методы защиты информации
Оптические методы контроля качества элементной базы микроэлектроники