Новосибирск: ИНХ СО РАН, 2003. 329 с. Рентгеновская спектроскопия
находит широкое применение в современной науке и технике, являясь
мощным современным физическим методом изучения состава,
электронного строения, структуры различных веществ и материалов.
Рентгеноспектральный анализ является базовым аналитическим методом
в промышленности; рентгеновский микрозондовый анализ нашел широкое
применение в материаловедении; ультрамягкая рентгеновская
эмиссионная и абсорбционная спектроскопия позволяет получить
уникальную информацию об электронном и пространственном строении
атомов, молекул и твердых тел. Материал, изложенный в книге,
является основой лекционных курсов, которые автор читал студентам
Новосибирского государственного университета. Книга знакомит с
физическими основами рентгеновской спектроскопии, ее возможностями
и достижениями и будет полезна как студентам и аспирантам, так и
широкому кругу химиков и физиков.