М.: Техносфера, 2009. — 208 с. — ISBN 978-5-94836-200-7.
Книга посвящена вопросам практического применения сканирующей
(растровой) электронной микроскопии с рентгеноспектральным
микроанализом. В качестве учебного пособия книга предназначена для
инженеров, студентов и обучающихся по специальностям, связанным с
машиностроением и материаловедением.
Криштал М.М., Ясников И.С. и др. Мир физики и техники. Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения
- формат pdf
- размер 122.39 МБ
- добавлен 21 августа 2014 г.
