Томск: Изд-во Томского политехнического университета, 2013. — 263
с. — ISBN 978-5-4387-0197-2
В монографии представлены физические основы рентгеноструктурного
исследования кристаллических материалов. Приведены основы
традиционных и современных методов рентгеноструктурного анализа в
материаловедении. Отдельно выделены принципы кристаллогеометрии с
использованием основ теории симметрии.
Цель - разумное совмещение фундаментальности и прикладных (практических) методов решения конкретных научно-исследовательских и материаловедческих задач. По мере возможности авторы старались показать ясность и очевидность физических явлений, которые лежат в основе рентгеноструктурных методов.
Предназначена для студентов, магистрантов, аспирантов и специалистов, занятых в этой области, а также будет полезно практикам, не имеющим специального образования.
Цель - разумное совмещение фундаментальности и прикладных (практических) методов решения конкретных научно-исследовательских и материаловедческих задач. По мере возможности авторы старались показать ясность и очевидность физических явлений, которые лежат в основе рентгеноструктурных методов.
Предназначена для студентов, магистрантов, аспирантов и специалистов, занятых в этой области, а также будет полезно практикам, не имеющим специального образования.