Тамбов: Изд-во Тамб. гос. техн. ун-та, 2006. – 24 с.
Изложена методика выполнения измерений параметров шероховатости поверхности по снятым профилограммам микрорельефа в системе М при помощи приборов профильного метода контактного типа, а также бесконтактных приборов светового сечения.
Предназначена для студентов всех форм обучения специальности 151001.
Изложена методика выполнения измерений параметров шероховатости поверхности по снятым профилограммам микрорельефа в системе М при помощи приборов профильного метода контактного типа, а также бесконтактных приборов светового сечения.
Предназначена для студентов всех форм обучения специальности 151001.