Учебное пособие. — Л.: Издательство ЛГУ, 1986. — 190 с.
В учебном пособии изложены основы эллипсометрии - прецизионного
оптического метода исследования физико-химических процессов на
поверхности твердых тел. Пособие предназначено для студентов
старших курсов и аспирантов, специализирующихся в области физики и
химии поверхности, микроэлектроники и оптики тонких покрытий.