Минск: ОИПИ НАН Беларусия 2008. — 268 с.
Рассматриваются методы и алгоритмы обработки изображений, которые
являются составной частью современной технологии проектирования и
производства интегральных схем, начиная с разработки фотошаблонов и
заканчивая контролем изготовления. Приведены полученные авторами
результаты для выполнения основных этапов обработки изображений,
ориентированных на локализацию и контроль дефектов: предварительная
обработка, идентификация объектов топологии и получение их
описаний. Разработанные методы и алгоритмы фильтрации, выделения
информативных признакови идентификации объектов позволили создать
оригинальные технологии обработки, которые значительно повышают
быстродействие систем обработки изображений топологии интегральных
схем при той же достоверности идентификации.