Таганрог: ТРТУ, 2005. - 50 с.
Пособие к практическим занятиям подготовлено на кафедре "Технологии микро- и наноэлектронной аппаратуры" включает разделы: Геометрия кристаллической решетки; Кристаллографические индексы; Кристаллографические проекции; Преобразования симметрии; Матричное описание операций симметрии; Предельные группы; Пространственные группы симметрии; Дифракция рентгеновских лучей в кристаллах. К приведенным задачам даны ответы, указания, решения. Подготовлено на кафедре технологии микро- и наноэлектронной аппаратуры ТРТУ.
Пособие к практическим занятиям подготовлено на кафедре "Технологии микро- и наноэлектронной аппаратуры" включает разделы: Геометрия кристаллической решетки; Кристаллографические индексы; Кристаллографические проекции; Преобразования симметрии; Матричное описание операций симметрии; Предельные группы; Пространственные группы симметрии; Дифракция рентгеновских лучей в кристаллах. К приведенным задачам даны ответы, указания, решения. Подготовлено на кафедре технологии микро- и наноэлектронной аппаратуры ТРТУ.