Пер. с англ. — М.: Радио и связь, 1990. — 176 с: ил.
ISBN 5-256-00703-3.
В книге английского специалиста обобщены результаты исследований и практической реализации в области проектирования тестопригодных логических схем. Количественные меры теетопригодности рассмотрены на примерах реальных устройств. Обсуждены достоинства и недостатки структурных методов тестопригодного проектирования, проанализированы методы встроенного тестирования схем с использованием совмещенных генераторов тестовых последовательностей и накопителей сигнатур. Предложен подход, основанный на сочетании детерминированных и вероятностных методов тестового диагностирования.
Для инженерно-технических работников, связанных с созданием и применением диагностических систем.
ISBN 5-256-00703-3.
В книге английского специалиста обобщены результаты исследований и практической реализации в области проектирования тестопригодных логических схем. Количественные меры теетопригодности рассмотрены на примерах реальных устройств. Обсуждены достоинства и недостатки структурных методов тестопригодного проектирования, проанализированы методы встроенного тестирования схем с использованием совмещенных генераторов тестовых последовательностей и накопителей сигнатур. Предложен подход, основанный на сочетании детерминированных и вероятностных методов тестового диагностирования.
Для инженерно-технических работников, связанных с созданием и применением диагностических систем.