Рассмотрены вопросы проектирования и применения микропроцессорных
систем тестового поэлементного диагностирования (СПД) и контроля
радиоэлектронной аппаратуры и микросборок. Анализируются дефекты и
даются рекомендации по их эффективному обнаружению. Изложена
методика автоматизированного получения рабочих программ
поэлементного диагностирования. Приведены конкретные технические
решения ряда устройств СПД.
Для инженерно-технических работников, занимающихся разработкой и эксплуатацией систем контроля и диагностирования.
Год издания 1987.
Для инженерно-технических работников, занимающихся разработкой и эксплуатацией систем контроля и диагностирования.
Год издания 1987.